手持式光谱仪_

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iEDX-100T镀层测厚仪

发布时间:2020/2/16 23:27:33来源:点击:

iEDX-100T镀层测厚仪

技术指标

多镀层分析,1~5层;

测试精度:0.001 μm;

元素分析范围从铝(Al)到铀(U);

测量时间:10~30秒;

SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;

探测器Be窗0.5mil(12.7μm);

微焦X射线管50kV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶);

6个准直器及多个滤光片自动切换;

高清CCD摄像头(200万像素),准确监控位置;

多变量非线性去卷积曲线拟合;

高性能FP/MLSQ分析;

仪器尺寸:450×520×385mm。

 

图谱界面

软件支持无标样分析;

宽大分析平台和样品腔;

集成了镀层分析界面和合金成份分析界面;

采用多种光谱拟合分析处理技术;

镀层测厚分析可达到0.001μm。

 

分析报告结果

直接打印分析报告;
报告可转换为PDF,EXCEL格式。


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